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学术成果

High-Dimensional and Multiple-Failure-Region Importance Sampling for SRAM Yield Analysis

发布时间：2021-06-10点击次数：

发表刊物： IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS
编号： SY128670
卷号： 25
期号： 3
页面范围： 806-819
是否译文： 否
发表时间： 2017-01-01

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