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学术成果

Integrated form-position measurement of large-aperture transparent elements based on stereoscopic phase measuring deflectometry

发布时间：2024-12-13点击次数：
  • 发表刊物： Surface Topography: Metrology and Properties
  • 编号： A24081103284
  • 卷号： 12
  • 期号： 2
  • 是否译文： 否
  • 发表时间： 2024-01-01
上一条：基于外置光阑针孔相机的高精度偏折测量技术
下一条：Adaptive coded phase mask design and high-quality image reconstruction for interference-less coded aperture correlation holography

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