Extra-detection-free monoscopic deflectometry for the in situ measurement of freeform specular surfaces
发布时间：2024-12-13
点击次数：
- 发表刊物：
- OPTICS LETTERS
- 编号：
- SY145749
- 卷号：
- 44
- 期号：
- 17
- 页面范围：
- 4271-4274
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2019-01-01
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