张树宇中文主页--论文成果

论文成果

中文主页 - 论文成果

退火温度对用PⅢ方法制备共掺杂p型ZnO薄膜结构和性能的影响

点击次数：

发表刊物：苏州大学学报(自然科学版)

论文编号：SY10313

卷号：27

期号：1

页面范围：52-57

是否译文：否

发表时间：2011-01-01

上一条：: Hot spots engineering by dielectric support for enhanced photocatalytic redox reactions

下一条：: Contributions of N+, N-2(+), NO+ Ion Implantation to p-Type Conversion of ZnO:Al Films