复旦大学  
更多 
中文主页 >> 科学研究 >> 学术成果

学术成果

Dependence of Reliability of GaN LEDs on their Junction Temperatures and Ideal Factors

发布时间：2021-12-30点击次数：
  • 发表刊物： DISPLAY, SOLID-STATE LIGHTING, PHOTOVOLTAICS, AND OPTOELECTRONICS IN ENERGY II
  • 论文编号： SY131877
  • 卷号： 7991
  • 是否译文： 否
  • 发表时间： 2011-01-01
上一条：Uncertainty Analysis in Measurement for LED Junction Temperature and Thermal Resistance
下一条：Uncertainty Analysis in Lifetime Measurement for White Light Emitting Diodesl

​Copyright © 2019 复旦大学版权所有
沪ICP备:16018209-1
地址：上海市杨浦区邯郸路220号
邮编：200433

访问量：

最后更新时间：..

手机版