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学术成果

Efficient Yield Optimization for Analog and SRAM Circuits via Gaussian Process Regression and Adaptive Yield Estimation

发布时间：2021-06-03点击次数：

发表刊物： 2017 IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON CIRCUITS AND SYSTEMS (ISCAS)
编号： SR3390
页面范围： 2461-2464
是否译文： 否
发表时间： 2017-01-01

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