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  • 学科：微电子学与固体电子学
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Influence of Post-Annealing on Resistivity of VOx Thin Film
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  • 发表刊物：IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
  • 编号：SY127238
  • 卷号：35
  • 期号：7
  • 页面范围：780-782
  • 是否译文：否
  • 发表时间：2014-01-01
  • 发表时间：2014-01-01
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