English 复旦大学  
更多 
中文主页 >> 科学研究 >> 学术成果

学术成果

Simplifying the monoscopic deflectometric measurement by extra-facility-free workpiece positioning

发布时间：2024-12-13点击次数：
  • 发表刊物： Precision Engineering-Journal of the International Societies For Precision Engineering and Nanotechnology
  • 编号： A24081102109
  • 卷号： 87
  • 页面范围： 97-105
  • 是否译文： 否
  • 发表时间： 2024-01-01
上一条：Balancing the Efficiency and Sensitivity of Defect Inspection of Non-Patterned Wafers with TDI-Based Dark-Field Scattering Microscopy
下一条：Separation of fringe patterns in fast deflectometric measurement of transparent optical elements based on neural network-assisted fast iterative filtering method

​Copyright © 2019 复旦大学版权所有
沪ICP备:16018209-1
地址：上海市杨浦区邯郸路220号
邮编：200433

访问量：

最后更新时间：..

手机版